探礦新方法:巖石薄片分析技術(shù)
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透反兩用偏光顯微鏡配有圖像分析系統(tǒng),可用于巖石、礦物的組分含量、結(jié)構(gòu)特征、空間類型及孔隙結(jié)構(gòu)等。
1. 巖石/鑄體直徑 25 mm ,長度50 mm,或者不小于此尺寸的巖石標本;
2. 如需委托制樣,請?zhí)崆芭c技術(shù)經(jīng)理確認
巖石薄片分析
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