光電微課堂 |光學(xué)玻璃均勻性測量
{{couponData.name}} ¥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折 ¥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}} ({{couponData.min_amount==1?'無門檻':'滿'+Math.floor(couponData.min_amount)+'可用'}})
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{{timeH}}
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{{timeM}}
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平面激光干涉儀
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平面激光干涉儀主要用于光學(xué)玻璃光學(xué)非均勻性的精密測量,光學(xué)均勻性指同塊玻璃中各點(diǎn)折射率相對于玻璃平均折射率的最大正、負(fù)偏差,用斐索平面干涉法進(jìn)行測量。
1.樣品玻璃內(nèi)應(yīng)無肉眼可見的條紋、氣泡等夾雜物;
2.樣品尺寸根據(jù)玻璃產(chǎn)品大小而定,樣品應(yīng)有2個(gè)形狀規(guī)則的通光面;
3.使用貼置板時(shí),樣品兩通光面精磨,平行度不大于1′,平面度不大于0.03mm,表面粗糙度Ra=1.6;
4.不使用貼置板時(shí),樣品兩通光面拋光,平行度不大于1′,面形N=0.07,△N=0.05,表面粗糙度Ra=0.012;
5.具體參照標(biāo)準(zhǔn)為:GB T 7962.2-2010 無色光學(xué)玻璃測試方法 第2部分-光學(xué)均勻性。
答:標(biāo)準(zhǔn)平面與待檢面之間形成一定的傾角,改變其間空氣楔的方位和大小,則兩相干光速的光程差沿空氣楔主截面方向逐漸變化,從而形成等厚干涉條紋。此種干涉稱為斐索平面干涉。
平面激光干涉儀
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