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預(yù)存

提起傳感器，大家應(yīng)該不會陌生，它能將溫度、壓力、濕度等物理量以電學(xué)信號的形式輸出，以達到顯示和記錄的目的。而氣體傳感器則是其中重要的組成部分，在檢測有毒、易燃、易爆等氣體方面不可或缺。下面以半導(dǎo)體金屬

2019-10-25

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1.唐本忠ACSNano：使用聚集誘導(dǎo)發(fā)光探針實現(xiàn)自組裝螺旋纖維的超高分辨率成像用于STED顯微鏡的有機熒光團通常會因聚集態(tài)猝滅發(fā)射和較低的光穩(wěn)定性而遭受破壞，這大大限制了它們在超高分辨率下實時、原位

2019-10-25

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一文讀懂D-SIMS

動態(tài)-二次離子質(zhì)譜（D-SIMS）用氣體等離子源轟擊樣品,使樣品表面原子、分子或離子等濺射出來，用質(zhì)量分析器接收濺射出的二次離子，通過分析其質(zhì)荷比（m/z)獲得二次離子質(zhì)譜。由于D-SIMS的離子源為

2019-10-25

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一文教會你EBSD制樣和分析思路

背散射電子衍射裝置(EBSD)是掃描電子顯微鏡(SEM)的附件之一，它能提供如晶間取向、晶界類型、再結(jié)晶晶粒、微織構(gòu)、相辨別和晶粒尺寸測量等完整的分析數(shù)據(jù)。EBSD數(shù)據(jù)來自樣品表面下10-50nm&n

2019-10-24

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原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM）：是一種可以用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小針尖，使之與樣品

2019-10-24

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sem 分析儀（IGA）聚光鏡球差透射元素分析儀（EA） EBSD數(shù)據(jù)分析動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（D-SIMS）聚光鏡球差透射 sem 聚光鏡球差透射 EBSD數(shù)據(jù)分析 EBSD數(shù)據(jù)分析動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（D-SIMS）聚光鏡球差透射

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